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溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱 是一種用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的設(shè)備，旨在在短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的使用情況，以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問(wèn)題。 廣泛應(yīng)用于電子元器件、集成電路、印刷電路板、電子組裝件等電子產(chǎn)品的可靠性評(píng)估，特別是高可靠性要求的航空航天、汽車(chē)電子、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域。
高壓加速老化試驗(yàn)箱 是一種用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的設(shè)備，旨在在短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的使用情況，以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問(wèn)題。 廣泛應(yīng)用于電子元器件、集成電路、印刷電路板、電子組裝件等電子產(chǎn)品的可靠性評(píng)估，特別是高可靠性要求的航空航天、汽車(chē)電子、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域。
hast試驗(yàn)箱 高溫 高濕 高壓可靠性 適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.40 / IEC60068-2-66、JESD22-A102-D、JESD22-A110-D、JESD22-A118-A。
高速壽命試驗(yàn)箱是一種用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高加速應(yīng)力測(cè)試的設(shè)備，旨在在短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在不同環(huán)境下的使用情況，以快速暴露產(chǎn)品潛在的可靠性問(wèn)題。
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